BJ-X現(xiàn)場金相檢查顯微鏡用途： 現(xiàn)場金相顯微鏡由于自帶垂直照明光源，可以很方便的用于現(xiàn)場或無法制作試樣時鑒別各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)可廣泛的應(yīng)用在工廠，實驗室進行鑄件質(zhì)量的鑒定，原材料檢驗或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鸾M織的研究分析等工作，也可以用作古董寶石及作表面細(xì)微觀察之用。

LW200-2JT正置金相顯微鏡 特點： 1、配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡（無蓋玻片），視場大而清晰。 2、粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu)，粗動松緊可調(diào)，帶鎖緊和限位裝置，微動格值:2μm。 3、6V20W鹵素?zé)?，亮度可調(diào)。 4、三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進行100%透光攝影。

LW200-3JT正置金相顯微鏡 特點： 1、配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡（無蓋玻片），視場大而清晰。 2、粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu)，粗動松緊可調(diào)，帶鎖緊和限位裝置，微動格值:2μm。 3、配置落射與透射兩套照明系統(tǒng)，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察。 4、6V20W鹵素?zé)?，亮度可調(diào)。 5、三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進行100%透光攝影。

LW200-4JT高清晰正置金相顯微鏡適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機構(gòu)作金相、巖相、礦相等材料表面組織結(jié)構(gòu)的薄片觀察檢測。也可用于電子工業(yè)部門作晶體，金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、芯片及新材料等方面的檢驗與分析。采用進口光學(xué)鏡片，*的100X干鏡可媲美國外同類產(chǎn)品,為國內(nèi)市場配置Z的產(chǎn)品

LWM300LJT大底座金相顯微鏡適用于對工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進行顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能，導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺可有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機構(gòu)采用圓柱滾子導(dǎo)向傳動，機構(gòu)升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測。